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电滞回线及高压介电击穿强度测试系统
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更新时间:2024-07-04  |  阅读:1431

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电滞回线及高压介电击穿强度测试系统

电滞回线及高压介电击穿强度测试系统基于改进优化的动态Sawyer-Tower电路开发的该系统,用于测量介电和铁电材料的电荷密度与电场及频率的关系;


系统特点:
1)整合了系统保护电路:当试样在高压测试发生击穿时,可有效的保护测试系统;
2)配合Trek高压放大器执行测试时,高压>10kV,并且频率可达1000Hz,可扩展到300kHz;
3)高压击穿测试可在AC、DC或者Field endurance life模式下测试,而且只需简单的切换信号连接即可;
4)自动铁电性能测试直至介电击穿发生;
5)对于介电材料充放电测试,软件能自动给出充电能量密度和放电能量密度,以及充放电效率;
6)对于寿命循环测试(DC模式或者AC模式),系统会自动生成测试总结文件;
7)夹具设计,确保即使测试软的高分子介电材料也不会损伤样品;
8)基于LabView设计的功能强大的软件系统,用户可方便地控制电压、信号波形(三角波、正弦波、Unipolar、Bipolar和Arbitrary)和频率;

电滞回线及高压介电击穿强度测试系统

技术规格:
1)内置电压:±100V or ±200V放大器
2)电压放大器>10kV to 30kV
3)电荷:<1nc to="">1mC(取决于放大器输出)
4)测试频率:0.01Hz to 1000Hz, or 10kHz, or 300kHz.
5)压电应变测量选件:Fotonic Sensor 10nm分辨率 或者磁电传感器;
6)高压变温测试选件:-184℃ to 250℃;


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