OLED光谱分析系统

我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统（OLED光谱分析仪）、载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统，为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。

OLED光谱分析系统用于测量OLED、钙钛矿LED及其其他发光器件的发射光谱特性和极化角，同事也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系，计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。

产品名称：OLED/LED电致发光/光致发光测量系统，EL/PL测量系统，多角度光谱测量系统，发光效率测量系统，发光光谱测量系统，外量子效率测量系统。

技术优势：

  • 角度依赖的PL光致发光谱分析

  • 角度依赖的EL电致发光谱分析

  • 角度依赖的发光分析

  • 兼容顶发光和底发光结构的OLED的及其他发光器件

  • p- and s-偏振态检测

  • 偏振角度连续扫描

  • 发光层中发光偶极子检测及偶极子趋向分析

  • 兼容各种几何尺寸样品

  • 样品便捷对准

  • 可与Setfos结合，对发光层进行分析

测量功能：

  • 颜色效率分析

  • 可视角分析

  • 量子效率EQE

  • 流明效率lm/W

  • 发光效率Cd/A

  • 发光区域拟合

  • 发光趋向分析

  • 发光特性角度依赖分析

  • 光谱和颜色VS.发射角

  • 发光层中偏振态分析

  • 散射特性分析

  • 工作点

  • 效能 (cd/A)

  • CIE坐标

  • 色温和显色指数等分析

  • 电流-电压-亮度(J-V-L)曲线测量

  • 光谱辐照度/强度

技术规格：

测试模式：

测量实例：